吉时利仪器公司 （NYSE:KEI）是为不断增长的测量需求提供解决方案的领导者，今日发布了美国AMD公司（NYSE：AMD）选用吉时利（Keithley）公司制造的S680型直流/射频 (DC/RF)半导体 参数自动测试系统，以支持AMD公司位于德国德累斯顿市技术发展水平最高的300mm Fab 36公司的先进逻辑芯片的全部生产。 S680直流/射频 (DC/RF) DC/RF系统的优点包括先进的测量能力、更较低的所有权保有成本、较高很高的信息通过产量以及较强有力的本地区服务和技术支持。 “AMD公司选用吉时利S680型参数测试系统表明说明该系统已成功成为在半导体芯片大批量制造时过程中进行过程控制的重要设备，提供晶圆圆片级电气测量可选用的参数测试仪良好选择。”吉时利公司商业务发展部副总经理总裁Mark Hoersten先生说，“无论是高性能逻辑电路制造商，还是高性能模拟集成电路制造商，都逐渐转而要求吉时利公司为他们正在其最先进的实验室中进行的下一代半导体工艺提供应电气参数测试仪机台。 这些工艺包括目前正在部署的90nm工艺和65nm工艺，连同他们正在使用的工艺，这将有助于开发行业内最尖端的45nm工艺。” 吉时利公司的S680型直流/射频 (DC/RF)参数 DC/RF测试系统仪于2003年首次推向市场，专为无线通讯和高速数字器件的晶圆圆片级参数测试而设计。 该测试机台仪通过将两个决定关键性的测试功能――DC和RF测试功能综合到一个测试序列中，集成到单个系统中从而大大提高了总的信息通过测试产量，因为DC和RF测试功能可综合到相同的测试序列中。 该集成方法删去排除了较长的校准定标和测试时间，也无需单独、昂贵的且仅用于RF的探针台而这在独立的RF测试解决方案中则是具有代表性的一段时间具有代表性。 该方法也无需独立的、而昂贵的、且仅RF测试才使用的且仅用于RF的探测器。 另外，再加上此外，吉时利公司半导体参数测试系统独有的并行测试等能力也可使得IC制造商能将其测试成本降到最低。