美国FEI公司日前成功开发出了分辨率高达0.07nm的电子显微镜“Titan 80-300”。从分辨率来讲，作为TEM（透射电子显微镜）使用时为0.07nm，用作STEM（扫描透射电子显微镜）时为0.1nm。 FEI总裁兼首席执行官Vahe Sarkissian表示，该产品在目前市场上销售的电子显微镜中实现了全球最高的分辨率。过去的电子显微镜不一定对提高分辨率的像差补偿技术进行优化。但此次则引进了与像差补偿技术相适应的设计，这一点在市售产品中也是第一次尝试。该产品将于8月在美国檀香山召开的“2005年显微术与显微分析技术会议（2005 Microscopy and Microanalysis meeting）”上首次展出并正式上市。