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Cascade Microtech推出M150测量平台 (2006-04-28)

发布时间:2007-12-04 作者: 来源: 浏览:817
Cascade Microtech宣布推出具备高效能测量能力的M150测试平台,该平台可针对半导体晶圆、IC、PCB、MEMS与生物科学等组件的单一测量,提供从DC到220GHz的广泛可供应性与可组态性、弹性化与多元化的150mm组件测试。 M150测试平台并可针对客户的不同应用快速转换,或经由客户重新组态,并透过可替换标准组件与附件最佳化来满足特定测量需求,以大幅节省因个别应用而需购置新测量平台的成本。M150并能协助客户解决功耗、操作频率、讯号隔离、讯号完整性与通路频宽等组件问题。 Cascade Microtech的新款M150测试平台可用于半导体晶圆厂、生产部门、故障分析、制程工程及组件塑型;进行III-V合成半导体制程特征化,如砷化镓、硅锗,以及针对射频的磷化铟、微波及毫米波应用;PCB板上的讯号完整性及高速互联问题;或针对如实验室芯片、微流体、有机晶体管、polytec神经元、MEMS组件及其它生物结构等应用进行精确定位、导航及分析检视;以及应用于全球各大学研究中心进行半导体组件与处理器之研发。 M150测试平台完全兼容于Cascade Microtech L系列的Microfluidics度量系统,并被运用为针对所有L系列的生命科学应用平台。M150测试平台并提供两种采购方式,藉由针对DC、RF、故障分析、PCB测试或毫米波封装,选择特定应用的预先组态封装之一,以及针对客户应用建立的客制化系统。
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