近日，由中国科学技术大学与我院共同完成的“扫描探针显微镜漂移测量方法与标准化”课题，荣获2014年中国分析测试协会科学技术奖（CAIA奖）。

CAIA奖是分析测试领域唯一的社会力量设奖，获奖成果反映了国内分析测试领域的最高水平，对加强分析测试领域和相关学科的基础性和应用性研究、提升我国分析测试与科研探索的创新能力和学术水平做出了重要贡献。

“扫描探针显微镜漂移测量方法与标准化”研究定义了描述SPM在X、Y和Z方向的漂移速率的专业术语，规定了SPM漂移速率的测量方法和测量程序，不仅为基于SPM测量图像的漂移速率提供了标准的评价方法，也对其它纳米级测量仪器稳定性的评价也有着重要参考价值。