近日，市场监管总局发布新材料与纳米领域4项计量技术规范，分别为《激光衍射法反射光栅校准规范》《锡膏厚度测量仪校准规范》《雷达散射截面法材料反射率测试系统校准规范》《煤中氟/氯测定仪校准规范》，将于2022年10月29日正式实施。

随着微纳科技与微纳产业的快速发展，各类电子和光学显微镜在微纳技术领域的保有量迅速增加。光栅间距样板作为传递标准广泛应用于扫描电子显微镜、扫描探针显微镜以及光学显微镜的放大倍率的校准，是各类显微镜测量准确性的保证。因此，作为传递标准的光栅间距样板的量值必须以较小的不确定度溯源至SI单位。反射光栅间距的激光衍射测量技术是一种非成像的间接测量微纳间距的技术，具有仪器设备结构简单、测量面积大、测量速度快、平均间距测量准确度高等优点，加之测量成本低，在微纳制造产业的在线、高速测量方面有巨大的应用潜力。《激光衍射法反射光栅校准规范》的发布与实施为用激光衍射法测量光栅间距提供了全面的、科学的、规范的法制依据和技术指导，为支持微纳产业等相关技术领域发展也奠定技术基础。

集成电路产业作为智能制造的主要领域，是引领新一轮科技革命和产业变革的关键力量。在集成电路生产制造过程中，集成电路板上锡膏的印刷质量将直接影响芯片和电子元器件焊接的质量，进而影响最终产品的性能。锡膏厚度测量仪是一种被广泛用于检测锡膏印刷质量的仪器。它采用非接触式的光学测量原理，能快速、无损地测量锡膏厚度、面积、体积等关键参数，对于判断锡膏印刷质量起到极其重要的作用。此前，由于缺乏相关的计量技术规范，锡膏厚度测量仪的可靠性和准确性只能依靠仪器生产厂家提供的维护服务，仪器量值无法得到有效溯源，因此急需制定统一的校准规范文件。在对国内外主要锡膏厚度测量仪产品和国内用户实际使用情况进行广泛调研的基础上，通过深入研究仪器技术指标、校准方法以及计量标准器等关键技术问题，起草制定了《锡膏厚度测量仪校准规范》。本规范的发布和实施，将填补国内锡膏厚度测量仪校准技术依据的空白，有利于实现锡膏厚度测量仪校准方法的统一和测量结果的溯源，保证集成电路板锡膏厚度量值的准确、一致和可靠。推动国内集成电路相关生产企业提升产品质量和技术能力，促进相关行业技术标准的统一，助力制造强国战略的实施。

反射率是衡量微波低散射材料性能的重要指标，可以直观地表达出材料对雷达信号的反射性能。通过反射率性能的考察，能实现材料的配比组成与结构参数的进一步优化。《雷达散射截面法材料反射率测试系统校准规范》的发布与实施，使雷达散射截面法材料反射率测试系统对于材料反射率的测试准确性有了溯源依据，对于保证微波低散射材料研制过程中的质量可靠性有重要意义。

煤炭作为我国第一能源，年消耗量将约40亿吨。氯和氟是煤中的有害元素，煤炭燃烧时，氯的危害主要表现在对锅炉设备及管道的腐蚀和玷污堵塞。燃烧后，氟化物发生分解，以HF、SiF4等气态污染物形式排入大气，造成大气氟污染和对生态环境的破坏，对人体、动植物健康带来严重危害，给农牧业造成经济损失。国家颁发《商品煤质量管理办法》《商品煤质量评价与控制技术指南》等文件对煤中氟氯等有害元素限值做出明确规定，煤炭氯元素含量应不超过0.3%，氟元素含量应不超过200μg/g。《煤中氟/氯测定仪校准规范》的发布与实施为煤中氟氯测定仪提供了详细的校准方法、解决仪器量值溯源难题。该技术规范有利于指导煤中氟氯测定仪的生产，提升仪器品质、统一仪器计量性能的评价。为煤炭能源清洁利用提供技术支撑，为“蓝天白云”环保事业贡献计量力量。