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安捷伦和康思德联手研发晶片级测量解决方案

发布时间:2014-06-30 作者: 来源:科技日报 浏览:1233
安捷伦科技公司和康思德精密科技有限公司日前宣布双方结成战略合作关系,旨在为客户提供经过全面配置和验证的射频测量解决方案,该解决方案不仅能够简化晶片级半导体测量,而且还能提供有保障的配置、安装及支持。
据介绍,最新的晶片级测量解决方案整合了康思德的晶圆探针台、探针和校准工具以及安捷伦测试仪器和测量分析软件,将会为半导体测试带来深远影响。每种解决方案配置在出厂前均已通过预先验证,以满足客户的特定应用需求,在康思德解决方案专家安装完毕后,可根据之前商定的验收标准再次验证配置。安捷伦或康思德承诺免费填补解决方案缺失的任何部件,以确保客户享受有保障的配置。另外,每个晶片级测量解决方案均配有完善的支持套件,并且允许客户联系经验丰富的区域解决方案专家以索取晶圆上测试测量技巧。
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